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簡要描述：IRiS 光學相干斷層掃描儀：對人工晶狀體進行非接觸式檢測，可以提供全面的幾何測量參數(shù)。與現(xiàn)有的幾何檢測設備相比，它的檢測速度更快、更精確、信息量更大。
產(chǎn)品型號：IRiS廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-12-25訪 問 量：247詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生 |
產(chǎn)品名稱：光學相干斷層掃描儀
產(chǎn)品型號：IRiS
符合標準：YY 0290/YY-T 0290
產(chǎn)品特點：
1.范圍大：生產(chǎn)，研發(fā)均可以使用。
2.測試速度快：幾秒完成幾何尺寸檢測。
3.測量方式：可空氣中測量/可溶液中測量。
4.多樣性檢測：前表面，后表面，襻的檢測。
5.高速掃描：20KHZ掃描頻率。
6.高清成像：1200萬像素攝像頭，細節(jié)清晰可見。
7.無損測量：無接觸式測量，避免樣品損傷。
檢測功能：
1.人工晶狀體厚度檢測
2.人工晶狀體直徑檢測
3.人工晶狀體曲率檢測
4.融入產(chǎn)線：提高產(chǎn)線各環(huán)節(jié)的測量能力自動化檢測（托盤+機械手+生產(chǎn)模塊軟件），產(chǎn)線檢測過程中，直接與CAD設計比對。
5.測量圖片
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